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日本k-axis面包外觀分析測量高速激光體積計 該設備可以快速簡單地測量非定形立體（如面包、糕點等）的體積、尺寸（長、寬、高）以及重量和比重（需選配）。 特別為面包食品行業(yè)設計，能夠立即在記錄表上顯示“縱橫比”和“彈性”的計算結果。 該設備適用于研究開發(fā)和品質(zhì)管理，有助于開辟新的研究和管理領域。 與之前廣泛使用的“菜種置換法”相比，該設備可以提供高精度和穩(wěn)定性的數(shù)據(jù)，不受個人差異影響。

日本otsuka大塚多樣品納米粒子徑測試儀 nanoSAQLA是一種通過動態(tài)光散射法（DLS法）測量粒徑（粒徑范圍0.6nm~10um）的設備。 支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內(nèi)的多檢體測定的新光學系統(tǒng)，實現(xiàn)實驗室必需的輕量、小型化、標準1分鐘的高速測定。 非浸泡型、不受接觸器影響、無需自動取樣器、標準配備“5檢體連續(xù)測量”的新產(chǎn)品。

otsuka大塚電池材料研發(fā)ZETA電位粒徑測試儀 非常適用于界面化學、無機物質(zhì)、半導體、聚合物、生物學、制藥和醫(yī)學領域的基礎研究和應用研究，不僅涉及微小顆粒，還涉及薄膜和平板表面的科學研究。

otsuka大塚半導體漿料ZETA電位徑粒測試儀 非常適用于界面化學、無機物質(zhì)、半導體、聚合物、生物學、制藥和醫(yī)學領域的基礎研究和應用研究，不僅涉及微小顆粒，還涉及薄膜和平板表面的科學研究。

日本otsuka大塚新ZETA電位計兼納米粒度儀 可根據(jù)用途增加功能(分子量測定、粒子濃度測定、微流變測定、凝膠網(wǎng)眼結構分析、粒徑多角度測定) ● 可以用標準流動池連續(xù)測量粒徑和zeta電位 ● 可以測量從稀薄到濃厚溶液(~40% )的廣泛濃度范圍的粒徑zeta電位 ● 可以在高鹽濃度下測定平板狀樣品的zeta電位 ● 可在0~90℃的廣闊溫度范圍內(nèi)進行測量

日本太陽科學紋理分析儀口感硬度試驗機測定對象： 食品：果凍、魔芋、豆腐、魚糕、豆類、面條、糖果、面包、火腿、香腸、奶酪、黃油、酸奶、米飯、水果、蔬菜、番茄醬、蛋黃醬、果醬等。 藥品：藥片、膠囊、顆粒、軟膏、繃帶、注射器、注射針等。 化妝品：口紅、乳霜、凝膠、粉底、肥皂、慕斯等。 工業(yè)產(chǎn)品：橡膠、包裝材料、粘合劑、膠帶、開關、IC芯片、粘土、薄膜等。

日本太陽科學面包果凍壓縮拉伸強度試驗機 食品行業(yè)：用于測量面包、果凍、面條等食品的壓縮/拉伸強度。 藥品行業(yè)：用于測試藥片、膠囊、軟膏等的硬度和附著力。 化妝品行業(yè)：用于測試口紅、乳霜、凝膠等的質(zhì)地。 工業(yè)領域：用于測試橡膠、包裝材料、粘合劑等的力學性能。

日本太陽科學全自動多功能物性測定儀試驗機 CR-3000EX-L是一款多功能高精度的物性測定系統(tǒng)，適用于食品、藥品、化妝品、工業(yè)產(chǎn)品等多領域，可滿足研發(fā)和品質(zhì)管理的多樣化需求。 產(chǎn)品特點： 全自動：自動進行復雜控制設置，如間隙調(diào)整和應變率測量。 9種模式：具備9種測量模式，可多角度測量樣品的力學特性。 寬范圍測量速度：試驗臺速度可在0.5mm/min～1200mm/min自由調(diào)整。