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日本rst-eng容量計測量電容器電容值高精度 6062 貼片式電容器編帶機(jī)用高速高精度測量裝置 以 3 位數(shù)字 1/2 顯示測量值 測量范圍0~199.9μF 自動雜散校正功能：約18pF 積分時間：2毫秒 操作時間：約3毫秒

日本aandd內(nèi)置藍(lán)牙的數(shù)字糖度計糖含量濃度 AD-4771 ?測量范圍（Brix 值）：0 至 55% ?通過藍(lán)牙通信與應(yīng)用程序“A&D Brix Check”鏈接 ?可通過應(yīng)用程序進(jìn)行操作，并可保存測量數(shù)據(jù)的圖像

荷蘭Kipp Zonen日射計高速響應(yīng)放射觀測量 Kipp & Zonen CMP-21 與 CMP11 相比，它的溫度依賴性更小。標(biāo)準(zhǔn)熱敏電阻傳感器（可選：Pt100Ω）監(jiān)控外殼溫度，每個設(shè)備都附有溫度依賴性數(shù)據(jù)和余弦特性數(shù)據(jù)。它用于科學(xué)研究，用于別的放射觀測網(wǎng)絡(luò)（BSRN）。

荷蘭Kipp Zonen全天空太陽總輻射測量熱量 Kipp & Zonen CMP-22 該傳感器使用石英圓頂并測量水平面上的總太陽輻射，它是直接太陽輻射和散射太陽輻射的組合。

日本進(jìn)口Akion激光干涉儀6英寸測量玻璃金屬 AK-100ZF /AK-150ZF /AK-40ZF 非常適合測量玻璃、塑料、金屬等的平面形狀。 可以以 λ/20 的高精度測量和評估從小直徑到大直徑的拋光表面。

日本進(jìn)口Akion激光光學(xué)干涉條紋分析裝置 IFM 通過高精度分析量化干涉條紋 通過利用激光干涉儀觀察到的干涉條紋圖像，對拋光表面的表面精度和光學(xué)元件的透射波前精度進(jìn)行量化和可視化，從而獲得精度更高、更易于理解且有助于提高質(zhì)量控制的產(chǎn)品。

日本alnair-labs高精度波片光學(xué)測量儀器 Alnair Labs 偏振控制器 使用高精度波片的偏振控制器 模塊化型，可自由組合偏光片和波片