日本SHINYEI粒子傳感監(jiān)測儀單元潔凈室檢測 AES-FP系列 特點介紹

該監(jiān)測儀可以在需要清潔度控制的環(huán)境中持續(xù)監(jiān)測0.3μm（或0.5μm）或更大的顆粒，例如潔凈室、潔凈室、半導體/薄膜/食品制造過程、印刷過程和醫(yī)院設施。

它支持使用類別值對懸浮顆粒進行可視化，對于 HACCP 管理也很有用。傳感器單元設計緊湊，適合集成到生產設備等中，并且可以安裝在狹窄的空間內。

日本SHINYEI粒子傳感監(jiān)測儀單元潔凈室檢測 AES-FP系列 規(guī)格參數(shù)

一種可以低價測量懸浮顆粒物的監(jiān)測儀

如果需要監(jiān)控功能，請使用粒子傳感監(jiān)控器“AES-FP系列"。當合并到控制系統(tǒng)或測量更多位置時，將顆粒傳感器單元“AES-FPS"用作單個傳感器。

清潔度等級 1,000 至 100,000通過 4 級 LED 顯示

簡單的操作性和顯示使清潔管理變得更簡單、更直觀。

輸出0.3μm（或0.5μm）及數(shù)μm以上的粒子數(shù)（參考值）

通過不僅控制清潔度控制所需的亞微米級顆粒（*），而且還控制大于幾微米的顆粒，我們可以抑制由于制造過程中的污染而導致的質量缺陷的發(fā)生。

(*) 檢測到的粒徑因型號而異。請選擇“0.3μm測量型號"或“0.5μm測量型號"。