otsuka大塚半導(dǎo)體漿料ZETA電位徑粒測試儀
otsuka大塚半導(dǎo)體漿料ZETA電位徑粒測試儀

產(chǎn)品信息

特點

● 可根據(jù)用途增加功能(分子量測定、粒子濃度測定、微流變測定、凝膠網(wǎng)眼結(jié)構(gòu)分析、粒徑多角度測定)
● 可以用標準流動池連續(xù)測量粒徑和zeta電位
● 可以測量從稀薄到濃厚溶液(~40% )的廣泛濃度范圍的粒徑zeta電位
● 可以在高鹽濃度下測定平板狀樣品的zeta電位
● 可在0~90℃的廣闊溫度范圍內(nèi)進行測量
● 通過溫度梯度功能，可對蛋白質(zhì)等的變性及相變溫度進行解析
● 通過樣品池內(nèi)的實測電氣浸透流圖分析，提供高精度的ZETA電位測量結(jié)果
● 可安裝熒光濾光器(選配)

用途

非常適用于界面化學、無機物質(zhì)、半導(dǎo)體、聚合物、生物學、制藥和醫(yī)學領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究，不僅涉及微小顆粒，還涉及薄膜和平板表面的科學研究。

● 新型功能材料領(lǐng)域

- 燃料電池相關(guān)（碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬）

- 納米生物相關(guān)（納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS、納米生物粒子）、納米氣泡等。

● 陶瓷/著色材料工業(yè)領(lǐng)域

- 陶瓷（二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等）

- 無機溶膠的表面改性/分散/聚集控制

- 顏料的分散/聚集控制（炭黑/有機顏料）

- 漿料狀樣品

- 濾光器

- 浮游選定礦物的捕集材料的收集和研究

● 半導(dǎo)體領(lǐng)域

- 異物附著在硅晶片表面的原理解析

- 研磨劑和添加劑與晶片表面的相互作用的研究

- CMP漿料的相互作用

● 聚合物/化工領(lǐng)域

- 乳液（涂料/粘合劑）的分散/聚集控制，乳膠的表面改性（醫(yī)藥/工業(yè)）

- 聚電解質(zhì)（聚苯乙烯磺酸鹽，聚羧酸等）的功能研究

- 功能納米顆粒紙/紙漿造紙過程控制和紙漿添加劑研究

● 制藥/食品工業(yè)領(lǐng)域 　

- 乳液（食品/香料/醫(yī)療/化妝品）分散/聚集控制及蛋白質(zhì)的機能性檢測

- 脂質(zhì)體/囊泡分散/聚集控制及表面活性劑（膠束）機能性檢測