日本betterseishin粉體材料破壞強(qiáng)度分析儀

日本betterseishin粉體材料破壞強(qiáng)度分析儀
微硬度測(cè)試儀MHT-1是一款專(zhuān)門(mén)用于測(cè)試微小顆粒壓縮強(qiáng)度的自動(dòng)化設(shè)備。通過(guò)更換測(cè)量平臺(tái)，可以測(cè)試40-400μm的微粒子。

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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商
更新時(shí)間：2025-11-07
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日本betterseishin粉體材料破壞強(qiáng)度分析儀
日本betterseishin粉體材料破壞強(qiáng)度分析儀

微硬度測(cè)試儀MHT-1是一款專(zhuān)門(mén)用于測(cè)試微小顆粒壓縮強(qiáng)度的自動(dòng)化設(shè)備。通過(guò)更換測(cè)量平臺(tái)，可以測(cè)試40-400μm的微粒子。

核心功能

壓縮測(cè)試：使用壓頭對(duì)顆粒施加負(fù)載，測(cè)量顆粒破碎時(shí)的峰值負(fù)載和顆粒大小，計(jì)算破碎強(qiáng)度
過(guò)程記錄：記錄從壓縮到破壞的整個(gè)過(guò)程，包括圖像數(shù)據(jù)和負(fù)載-位移曲線
自動(dòng)識(shí)別：通過(guò)圖像分析技術(shù)，自動(dòng)識(shí)別單個(gè)顆粒，排除重疊或聚集的顆粒

技術(shù)特點(diǎn)

自動(dòng)操作：只需投入試樣，即可自動(dòng)完成壓縮試驗(yàn)和清潔
分散技術(shù)：采用技術(shù)將顆粒一顆顆分散采樣
圖像解析：可查看任意顆粒的負(fù)載位移曲線和連續(xù)圖像

產(chǎn)品規(guī)格對(duì)比

表格

規(guī)格項(xiàng)目	MHT-1	MHT-1W（高分辨率）
目標(biāo)粒徑	50-400μm	40-120μm
下降速度	1.0-10μm/sec	0.01-10μm/sec
負(fù)載傳感器	1N（最小顯示0.01mN）	1N（最小顯示0.01mN）
相機(jī)選項(xiàng)	多種CMOS USB相機(jī)可選	多種CMOS USB相機(jī)可選

應(yīng)用領(lǐng)域

微粒子材料的壓縮特性測(cè)試
粉體材料的破壞強(qiáng)度分析
材料科學(xué)研究

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

高精度測(cè)量：最小可測(cè)量0.01mN的力
自動(dòng)化程度高：減少人工操作，提高測(cè)試效率
可視化分析：通過(guò)圖像和曲線直觀展示破壞過(guò)程
靈活配置：可根據(jù)需求選擇不同的相機(jī)和傳感器

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日本betterseishin粉體材料破壞強(qiáng)度分析儀

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