日本ihara半導體光掩膜透光率測量儀
日本ihara半導體光掩膜透光率測量儀

• 便攜式設計，內(nèi)置測量工作臺
• 無需外接設備，現(xiàn)場使用方便
• 支持多種材料測量

主要測量對象與應用

• 薄膜類：各種塑料薄膜、光學薄膜
• 玻璃材料：光學玻璃、石英玻璃
• 樹脂材料：透明樹脂、塑料片材

1. 醫(yī)療影像：
• 醫(yī)療用X光膠片透過濃度管理
• 確保診斷影像質(zhì)量
2. 電子工業(yè)：
• 顯示器用光掩模透過率管理
• 半導體制造用掩模版檢測
3. 建材行業(yè)：
• 壁紙、薄膜的隱蔽性評估
• 涂料遮蓋力測試
4. 工業(yè)材料：
• 溶劑、膠粘劑固化后透過率測定
• 鋁蒸鍍薄膜遮光性確認
5. 包裝行業(yè)：
• 食品包裝薄膜遮光性能檢測
• 電子儀器蓋片透過率測量

技術原理

• 透過率公式：τ = Φj / Φi（透射光通量/入射光通量）
• 透過濃度公式：D = -log10(Φj / Φi)
• 顯示方式：OD值顯示，便于理解

1. 寬范圍測量：支持彩色薄膜測量（不僅限于黑白）
2. 厚度適應性強：標準支持1mm以內(nèi)厚度，特殊需求可定制
3. 高精度測量：微小區(qū)域也能精確測量

主要測量對象：薄膜、玻璃、樹脂

■用途多種多樣

① 醫(yī)用膠片的透射密度管理

② 面向顯示屏及半導體光掩膜的透光率管理

? 建材用途的壁紙、薄膜及涂料的遮蓋性（隱蔽性）評估

④ 溶劑·粘合劑固化后的透過率測量

⑤ 點心包裝等鋁蒸鍍薄膜的遮光性確認

⑥ 電子儀器用覆蓋薄膜的透過率測量