PI、BCB薄膜研發(fā)高阻評估高電阻率計 
PI、BCB薄膜研發(fā)高阻評估高電阻率計 
高電阻電阻率計
用途：測量絕緣材料、半導(dǎo)體薄膜、防靜電層等的高表面電阻率（Ω/□）與體積電阻率（Ω·cm），覆蓋 103–101? Ω 的超寬量程，適用于研發(fā)、品管、FA 實驗室

1. 超寬量程單臺覆蓋
• 103 – 101? Ω（@ 1 V–1000 V），無需更換主機即可測防靜電薄膜到絕緣樹脂。
2. 1 V–1000 V 可編程掃描
• 29 檔施加電壓，帶“自動電壓掃描"模式，一次獲得電阻-電壓曲線，便于研究材料的非線性、擊穿特性。
3. 雙環(huán)電極 + 表面/體積切換
• 符合 JIS K 6911、ASTM D257 的同心雙環(huán)電極，標(biāo)配 UR-SS 探頭；主機內(nèi)置繼電器，一鍵完成表面 ? 體積電阻率切換，無需外接切換盒。
4. 超低泄漏電流輸入
• 前置放大器輸入阻抗 > 2×101? Ω，最小分辨電流 0.1 fA，保證 101? Ω 量級仍具 ±2 % 精度。
5. 樣品帶電自動放電
• 測量前/后自動施加反向電壓放電，防止靜電殘留導(dǎo)致誤差或擊穿。
6. 溫濕度同步記錄
• 內(nèi)置溫濕度傳感器，數(shù)據(jù)文件自動附帶 T/RH，方便進行 IEC 61340 標(biāo)準(zhǔn)條件下的電阻率對比。
7. 多模式軟件
• 定時測量、斜坡掃描、階躍電壓、I-t 曲線、回讀電流-時間衰減，可用于評估材料極化、陷阱能級。
8. 數(shù)據(jù)輸出
• 2000 組內(nèi)部存儲 + USB 直接導(dǎo)出 CSV/PDF；可選 LAN 接口，與 LIMS 對接。

• 防靜電包裝材料（袋、泡棉、周轉(zhuǎn)箱）表面電阻率 IEC 61340-5-1 認(rèn)證測試
• 電子紙、OLED 絕緣層、TFT 鈍化層體積電阻率評價
• 光伏背板、封裝 EVA、POE 絕緣層 FA 分析
• 半導(dǎo)體/LED 封裝環(huán)氧樹脂、PI、BCB 薄膜高阻評估
• 功能性薄膜：透明絕緣層、阻水層、DLC 層擊穿特性掃描