磁性器件無損測量短沖程型彈簧接觸式探針

磁性器件無損測量短沖程型彈簧接觸式探針
CPS10 - CPS35（彈簧接觸探針）
襯套耐久性：100 萬次以上（行程 1 mm，60 次/60 秒）
耐熱溫度：100 ºC 以下

產(chǎn)品型號：CPS10 - CPS35
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時間：2026-01-21
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磁性器件無損測量短沖程型彈簧接觸式探針

日本 Sankei-Engineering 的 CPS10-CPS35 系列屬于“Mini-Probe"彈簧接觸探針，主要特點與信息如下：

結(jié)構(gòu)類型
彈簧式接觸探針，適用于高速接觸及斜向接觸場景，可安裝在金屬制探針板上。
機械壽命
襯套（bushing）耐久次數(shù) ≥100 萬次（行程 1 mm、60 次/分鐘條件下測試）。
材質(zhì)與磁性
接觸部分采用銅合金 + 無電解鍍層，將探針自身磁性抑制到極低水平，可對帶磁性器件進行無損測量。
安裝方式

樹脂襯套壓入式（CPUE 型）
SK 材金屬襯套壓入式（CPUSK 型）
螺釘鎖緊式（CPUM / CPUEM 型），可防止因基板熱脹冷縮導(dǎo)致的探針脫落。

電流規(guī)格
提供多種直徑與形狀選配，并支持 4 端子、大電流、耐熱型、帶熱敏電阻等同軸或分離型定制；電流容量、通電時間可按需特注

CPS10 - CPS35 (Spring contact probe)Durability of bushing : more than 1 million strokes(1mm stroke, 60 strokes / 60 seconds)Thermal-endurance : below 100oC

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