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PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類產(chǎn)品展示/ Product display
toyoseiko正電子壽命測定裝置缺陷檢測儀可實現(xiàn)亞納米級（原子級別） 微小缺陷、空隙的精準評估，為材料微觀結構分析提供依據(jù)；測量深度：針對鋼材，可檢測表面至約 50μm 深度的缺陷；核心優(yōu)勢：非接觸、非破壞性檢測，且無需專業(yè)放射操作資格，可在普通實驗室使用。
產(chǎn)品型號：TypeL-ⅡAS廠商性質：經(jīng)銷商更新時間：2026-03-04訪 問 量：11
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toyoseiko正電子壽命測定裝置缺陷檢測儀
toyoseiko正電子壽命測定裝置缺陷檢測儀
檢測能力：可實現(xiàn)亞納米級（原子級別） 微小缺陷、空隙的精準評估，為材料微觀結構分析提供依據(jù)；
測量深度：針對鋼材，可檢測表面至約 50μm 深度的缺陷；
核心優(yōu)勢：非接觸、非破壞性檢測，且無需專業(yè)放射操作資格，可在普通實驗室使用。
適用材料：鋼鐵、鋁、鈦等各類金屬，以及玻璃、高分子等非晶質材料；
典型用途：可用于金屬噴丸處理的品質確認、金屬疲勞損傷的評估，也可拓展至半導體、電池材料的原子缺陷檢測、高分子材料的自由體積評估等場景。
反符合（AC）系統(tǒng)：可辨別試樣另一側釋放的正電子信號，無需將放射源夾在試樣中間，單塊試樣也可測量，同時簡化放射源操作，提升使用安全性；
自動設置系統(tǒng)：程序自動完成測量所需參數(shù)設定，完成后可立即啟動測量，且能自動完成初步解析，操作便捷；
安全的放射源：使用符合《放射線障害防止法》規(guī)限值的密封 Na-22 正電子源（~1 MBq），無特殊使用資質要求。
| 型號 | 本體尺寸（mm） | 重量 | 特色 |
|---|---|---|---|
| TypeL-ⅡAS（自動進樣款） | 490×490×350 | 約 50kg | 配 4/8 個 50×50mm 試樣夾具，支持批量試樣檢測 |
| TypeL-Ⅱ（基礎款） | 400×400×358 | 25kg | 小型精密，適配研究開發(fā)現(xiàn)場的小試樣高精度測量 |
| TypeL-P（便攜款） | 120×120×100 | 約 2kg | 超小超輕，筆記本電腦為選配，適配現(xiàn)場快速檢測 |
郵箱：akiyama_zhou@163.com
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