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光學(xué)薄膜桌面型離線接觸式線性測(cè)厚儀 桌面型離線接觸式厚度測(cè)量裝置，適用于薄膜、高精度塑料薄膜（如聚酰亞胺薄膜、光學(xué)薄膜等）的厚度測(cè)量。 自動(dòng)運(yùn)輸測(cè)量，確保測(cè)量數(shù)據(jù)的一致性，無(wú)個(gè)人差異。 厚度分布雷達(dá)圖：可用于調(diào)整膨脹薄膜，直觀展示厚度分布。 高精度測(cè)量：接觸式測(cè)量，最小顯示值可達(dá)0.01微米。

薄膜研發(fā)用離線靜電容量式非接觸式測(cè)厚儀 測(cè)量精度可達(dá)±0.01μm，能夠?qū)崿F(xiàn)高重復(fù)性和高穩(wěn)定性的測(cè)量。 測(cè)量范圍廣：測(cè)量范圍為0-500μm，工作區(qū)間為10-230μm，可滿足多種薄膜材料的厚度測(cè)量需求。 快速測(cè)量：測(cè)量速度為100ms/點(diǎn)，能夠快速完成測(cè)量，提高工作效率。

日本yamabun非接觸式半導(dǎo)體薄膜測(cè)厚儀 測(cè)量精度可達(dá)±0.01μm，能夠?qū)崿F(xiàn)高重復(fù)性和高穩(wěn)定性的測(cè)量。 測(cè)量范圍廣：測(cè)量范圍為0-500μm，工作區(qū)間為10-230μm，可滿足多種薄膜材料的厚度測(cè)量需求。 快速測(cè)量：測(cè)量速度為100ms/點(diǎn)，能夠快速完成測(cè)量，提高工作效率。

日本yamabun山文非接觸式防塵膜測(cè)厚儀 測(cè)量精度可達(dá)±0.01μm，能夠?qū)崿F(xiàn)高重復(fù)性和高穩(wěn)定性的測(cè)量。 測(cè)量范圍廣：測(cè)量范圍為0-500μm，工作區(qū)間為10-230μm，可滿足多種薄膜材料的厚度測(cè)量需求。 快速測(cè)量：測(cè)量速度為100ms/點(diǎn)，能夠快速完成測(cè)量，提高工作效率。

日本yamabun山文電容式非接觸測(cè)量測(cè)厚儀 采用電容式傳感技術(shù)，通過(guò)測(cè)量極板間介電常數(shù)的變化來(lái)確定厚度，是非接觸式測(cè)量方式。這種方式特別適用于難以用接觸式測(cè)量的薄膜，即使表面狀況粗糙，也可以進(jìn)行測(cè)量。 自動(dòng)介電常數(shù)設(shè)置功能：具有自動(dòng)介電常數(shù)設(shè)置功能，簡(jiǎn)化了操作流程。

日本yamabun山文桌上型PET薄膜測(cè)厚儀 接觸式測(cè)量：采用高精度的機(jī)械接觸測(cè)量技術(shù)，通過(guò)高精度的傳感器與被測(cè)物體表面接觸，直接測(cè)量物體的厚度，確保了測(cè)量的高精度和高重復(fù)性。 自動(dòng)運(yùn)輸測(cè)量：設(shè)備采用自動(dòng)運(yùn)輸方式，確保測(cè)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和一致性，減少了人為誤差

日本yamabun山文薄膜研發(fā)品質(zhì)管理用測(cè)厚儀 接觸式測(cè)量：采用高精度的機(jī)械接觸測(cè)量技術(shù)，通過(guò)高精度的傳感器與被測(cè)物體表面接觸，直接測(cè)量物體的厚度，確保了測(cè)量的高精度和高重復(fù)性。 自動(dòng)運(yùn)輸測(cè)量：設(shè)備采用自動(dòng)運(yùn)輸方式，確保測(cè)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和一致性，減少了人為誤差

日本yamabun山文接觸型離線式薄膜測(cè)厚儀 接觸式測(cè)量：采用高精度的機(jī)械接觸測(cè)量技術(shù)，通過(guò)高精度的傳感器與被測(cè)物體表面接觸，直接測(cè)量物體的厚度，確保了測(cè)量的高精度和高重復(fù)性。 自動(dòng)運(yùn)輸測(cè)量：設(shè)備采用自動(dòng)運(yùn)輸方式，確保測(cè)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和一致性，減少了人為誤差