日本NCC半導(dǎo)體無(wú)塵室落塵監(jiān)測(cè)儀自動(dòng)計(jì)數(shù)

日本NCC半導(dǎo)體無(wú)塵室落塵監(jiān)測(cè)儀自動(dòng)計(jì)數(shù)

落塵計(jì)數(shù)器是什么？

落塵計(jì)數(shù)器不是測(cè)量浮游塵而是測(cè)量附著粉塵的特殊測(cè)量?jī)x器?？蓪?duì)10μm以上的粗大粒子進(jìn)行分級(jí)計(jì)量。無(wú)塵室中的產(chǎn)品上附著的灰塵，異物，造成不良的原因多為落下塵埃。其特征是以非常緩慢的速度下落并堆積起來(lái)。落塵計(jì)數(shù)器是使用樣品收集板（4英寸晶片），將落下附著于收集板上的粉塵進(jìn)行進(jìn)行分級(jí)計(jì)數(shù)的裝置。測(cè)定結(jié)果可顯示并保存在電腦上。使用晶片收集灰塵，所以只要是能放下晶片的地方就都可以進(jìn)行測(cè)量。

使用晶片收集灰塵、對(duì)10μm～100μm粗大粒子進(jìn)行分級(jí)計(jì)數(shù)。

還能解決你的這些煩惱?。?/strong>

? 用粘性膠帶采樣，然后在顯微鏡下觀察計(jì)數(shù)，效率低下，費(fèi)時(shí)間。

? 想調(diào)查裝置內(nèi)付著的塵埃但是找不到好的測(cè)定方法。

? 想調(diào)查高溫的爐內(nèi)、運(yùn)行中的傳送帶等上面附著的灰塵，卻沒有好的測(cè)定方法。

使用2英寸晶片 (直徑50mm)能調(diào)查 4英寸 (直徑100mm)無(wú)法采樣的狹小空間。只需準(zhǔn)備專用的支架和晶片即可。

落塵計(jì)數(shù)器必須安裝在無(wú)塵環(huán)境中

在100級(jí)左右的無(wú)塵室中設(shè)置、測(cè)定或清潔晶片可以防止灰塵附著影響測(cè)定結(jié)果。

使用晶片專用工具清潔后，晶片可以多次循環(huán)利用。