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日本AND工業(yè)環(huán)氧樹脂超聲波測(cè)厚儀 適用于多種材料（如金屬、玻璃、塑料、陶瓷、環(huán)氧樹脂等）的厚度測(cè)量。 一臺(tái)設(shè)備即可覆蓋廣泛的測(cè)量范圍：0.8～300mm。 高精度顯示：0.01mm的顯示分辨率（可切換為0.1mm）。 掃描模式：具備掃描模式，可測(cè)量廣泛范圍內(nèi)的最小厚度。 多種探頭可選：根據(jù)用途可選擇4種類型的探頭。

日本AND超聲波測(cè)厚儀 塑料、陶瓷材料測(cè)量 適用于多種材料（如金屬、玻璃、塑料、陶瓷、環(huán)氧樹脂等）的厚度測(cè)量。 一臺(tái)設(shè)備即可覆蓋廣泛的測(cè)量范圍：0.8～300mm。 高精度顯示：0.01mm的顯示分辨率（可切換為0.1mm）。 掃描模式：具備掃描模式，可測(cè)量廣泛范圍內(nèi)的最小厚度。 多種探頭可選：根據(jù)用途可選擇4種類型的探頭。

日本AND金屬玻璃材料超聲波測(cè)厚儀 適用于多種材料（如金屬、玻璃、塑料、陶瓷、環(huán)氧樹脂等）的厚度測(cè)量。 一臺(tái)設(shè)備即可覆蓋廣泛的測(cè)量范圍：0.8～300mm。 高精度顯示：0.01mm的顯示分辨率（可切換為0.1mm）。 掃描模式：具備掃描模式，可測(cè)量廣泛范圍內(nèi)的最小厚度。 多種探頭可選：根據(jù)用途可選擇4種類型的探頭。

日本AND多材料厚度無損測(cè)定超聲波測(cè)厚儀 適用于多種材料（如金屬、玻璃、塑料、陶瓷、環(huán)氧樹脂等）的厚度測(cè)量。 一臺(tái)設(shè)備即可覆蓋廣泛的測(cè)量范圍：0.8～300mm。 高精度顯示：0.01mm的顯示分辨率（可切換為0.1mm）。 掃描模式：具備掃描模式，可測(cè)量廣泛范圍內(nèi)的最小厚度。 多種探頭可選：根據(jù)用途可選擇4種類型的探頭。

日本AND超聲波測(cè)厚儀 可穿透鍍層測(cè)量 適用于多種材料（如金屬、玻璃、塑料、陶瓷、環(huán)氧樹脂等）的厚度測(cè)量。 一臺(tái)設(shè)備即可覆蓋廣泛的測(cè)量范圍：0.8～300mm。 高精度顯示：0.01mm的顯示分辨率（可切換為0.1mm）。 掃描模式：具備掃描模式，可測(cè)量廣泛范圍內(nèi)的最小厚度。 多種探頭可選：根據(jù)用途可選擇4種類型的探頭。

日本densoku電測(cè)銅 錫 鉻等金屬鍍層膜厚計(jì) 通過電解液可測(cè)量各種金屬鍍層（鉻、鎳、銅、錫、化學(xué)鍍鎳、鐵、鋅、銦、銀等）的膜厚。這是一款適用于多種鍍層的高精度測(cè)厚儀。

日本densoku電測(cè)金鉻等薄膜鍍層測(cè)厚儀 通過電解液可測(cè)量各種金屬鍍層（鉻、鎳、銅、錫、化學(xué)鍍鎳、鐵、鋅、銦、銀等）的膜厚。這是一款適用于多種鍍層的高精度測(cè)厚儀。

densoku電測(cè)多點(diǎn)同時(shí)測(cè)定渦電流式膜厚計(jì) 能夠同時(shí)測(cè)量多點(diǎn)，適合小型部件的全數(shù)檢查和大型部件的多點(diǎn)檢查，最多可以同時(shí)測(cè)量96點(diǎn)。 測(cè)量時(shí)間約為3秒，適合大批量部件的全數(shù)檢查。